首先是陶瓷本体问题-开裂或微裂，这是最常见的问题之一。开裂现象较明显，而微裂一般出在内部，不容易观察到，涉及到片状电容的材质、加工工艺和片状电容运用过程中的机械、热应力等效果因素影响。      

其次是片状电容电功能问题。片状电容运用一段时间后呈现绝缘电阻下降、漏电。以上两个问题往往一起发生，互为因果关系。电容器的绝缘电阻是一项重要的参数，衡量着作业中片状电容漏电流大小。漏电流大，片状电容贮存不了电量，片状电容两端电压下降。往往因为漏电流大导致了片状电容失效，引发了对片状电容牢靠性问题的争辩。       

牢靠性问题：片状电容失效分为三个阶段。       

第一阶段是片状电容出产、运用过程的失效，这一阶段片状电容失效与制造和加工工艺有关。片状电容制造过程中，第一道工序陶瓷粉料、有机黏合剂和溶剂混合配料时，有机黏合剂的选型和在瓷浆中的份额决定了瓷浆干燥后瓷膜的缩短率；第三道工序丝印时内电极金属层也较关键，不然易发生强的缩短应力，烧结是构成瓷体和发生片状电容电功能的决定性工序，烧结不良可以直接影响到电功能，且内电极金属层与陶瓷介质烧结时缩短不一致导致瓷体内部发生了微裂纹，这些微裂纹对一般电功能不会发生影响，但影响产品的牢靠性。主要的失效模式表现为片状电容绝缘电阻下降，漏电。       

防范、杜绝微裂纹的发生：从原材料选配、瓷浆制备、丝网印刷和高温烧结四方面优选工艺参数，以到达片状电容内部结构合理，电功能稳定，牢靠性好。 第二阶段是片状电容长时间作业呈现失效现象，这一阶段片状电容失效往往因为老化、磨损和疲惫等原因使元件功能恶化所致。电子整机到消费者手中呈现整机功能障碍，追溯原因，发现片状电容漏电流大，失效。一般此类问题源自于第一阶段或第二阶段片状电容牢靠性隐患的终究露出，该阶段呈现的质量比前两个阶段严重得多。因为整机在消费者运用过程中涉及到的条件，整机出产厂家和元器件厂家大多都模仿实验过，所以片状电容在整机出厂前，应符合电子道路的要求，但整机因片状电容运用一段时间呈现质量问题，则要认证研究片状电容出产或加工过程中的质量隐患。应更换片状电容以确保电子整机设备的正常作业。       

片状电容呈现质量问题，特别是涉及到牢靠性问题的质量问题，是一个杂乱的过程。它的表现形式主要是瓷体开裂、微裂或绝缘电阻下降‘漏电流增大居多，呈现片状电容牢靠性失效的质量问题，应从大角度、全方位、分阶段剖析、研究该问题。